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因iPhone 6 Plus存在质量缺陷,或将召回

 2014-11-05 09:39:53 浏览量:0

  虽然在创新方面此次iPhone 6系列并没有做出什么突破,但是更大的屏幕、更薄的机身、更好用的指纹识别,令这款产品依旧销量独占鳌头。不过近日有消息显示,iPhone 6 Plus或存在质量缺陷。

  根据台媒、韩国给出的最新报道称,iPhone 6 Plus存在质量上的问题,招致手机的频繁死机。而进一步深究原因的话,极有可能是存储零配件的质量缺陷导致。如果消息属实,那么产品召回是不可避免了。

  仅从目前的推断看,造成频繁死机的主要原因,极有可能是TLC NAND存储器控制IC的缺陷。而报道中也同样强调,苹果为了节省成本,使用了TLC NAND存储器控制,虽然存容量更多,但是读取/写入的速度比较慢。

  有意思的是,之前已经有不少果粉在苹果的官方论坛表示,自己的iPhone 6 Plus送修多次,最夸张的一位送修了4次依然没有解决问题。同时业内人士同样指出,这很可能是iPhone内部NAND Flash控制的IC品质瑕疵所导致。

  所以从多方的消息看,目测iPhone此次存在问题的几率不低。不过究竟结果如何,我们还需要等待官方进一步的说法。当然了,如果一旦被证实问题存在,召回似乎就成了唯一的解决办法。



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